关于网络研讨会:
本次网络研讨会将重点讨论以下主题:
- AM缺陷复杂起源
- 建成后无损检测(XCT限制和非常规方法)
- NDT标准要点
- 进程内的无损检测
- 通过激光超声测量残余应力
学习成果:
在完成本次网络研讨会后，与会者将实现以下目标:
- 了解AM缺陷形成的复杂性。
- 认识常规/非事后无损检测方法的能力和局限性。
- 及时了解最新发布的无损检测标准。
- 熟练掌握过程无损检测和监控方法。
- 对测量残余应力的新方法保持警惕。
谁应该参加:
制造工程师，研究工程师，AM工艺工程师，AM操作员，质量技术员，QA/QC工程师
教练
-
教练
本·达顿博士
显示更多Ben Dutton博士是MTC计量和无损检测部门的技术专家，在无损检测领域拥有17年的经验。他拥有宝贵的学术和工业经验，在整合设计和制造功能方面具有成熟的专业知识。作为MTC的技术专家，他领导了“过程监控/检查策略”，其中包括对PBF、DED和激光焊接进行现场检查的主要项目。他也非常活跃于制造后的NDT检测项目，主要针对AM，并领导MTC的“AM检测”战略。他领导着两个关于AM无损检测的国际标准(ISO/ASTM)联合小组。他曾参与以下领域的多个项目:航空航天、航天、汽车、交通(铁路)和医疗。项目组合包括单个客户，MTC CRP(核心研究计划)，英国政府支持的创新英国和欧洲如H2020。他领导MTC的ASTM AM卓越中心团队。最后，他是科学委员会的成员，并领导ASTM增材制造国际会议(ASTM ICAM 2020,2021)的无损检测研讨会。
